九州大学大学院総合理工学府 永長・北條研究室
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主要設備
走査型電子顕微鏡
材料に電子を照射し、反射する電子(二次電子)を観察することにより、材料の形状を調べることができます。
X線回折装置
Rigaku社のUltima IVです。材料にX線を照射し、回折されるX線の強度を調べることで材料の構造を調べることができます。温度コントロールも可能です。
X線回折装置
Rigaku社のRINT2000です。材料にX線を照射し、回折されるX線の強度を調べることで材料の構造を調べることができます。
昇温反応(還元脱離)装置
試料を昇温させながら吸着物質の脱離挙動や、材料の還元挙動を追跡することで、材料表面の性質や、還元特性を調べることができます。
蛍光X線分析装置
試料にX線を照射し、発生するX線(蛍光X線)のエネルギーや強度を測定することにより、材料に含まれる元素や量を調べることができます。
比表面積測定装置
試料にN2P有機分子を吸着させて、表面積や細孔構造を調べます。
X線光電子分光分析装置
試料の表面にX線を照射し、発生する光電子を分析することにより、表面の組成や元素の化学結合状態を調べることができます。
熱重量分析装置
試料を一定速度で昇温する際の重量変化を追跡します。
パルスレーザー堆積装置
パスカル社製のパルスレーザー堆積装置です。単結晶基板上に高品質なエピタキシャル薄膜を合成できます。エキシマレーザーに比べて低コストなYAGレーザー(266nm)を使っています。
総理工の共用設備@筑紫キャンパス
透過型電子顕微鏡1
FEI社のTitan G2 cubedです。収差補正機能はもちろん、モノクロEELS(エネルギーフィルターはGatan GIF Quantum)、SDDのEDS検出器(Super X)もついています。
透過型電子顕微鏡2
JEOL社のJEM-ARM200Fです。収差補正機能とSDDのEDS検出器がついています。
アルゴンイオンミリング装置
Gatan社のPIPS IIです。0.1Vまでの低電圧と、冷却ステージ付きです。
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